Elementy składowe do budowy profilometru optycznego (38)

Politechnika Wrocławska

Osoba Kontaktowa :

Arkadiusz J. Antończak

arkadiusz.antonczak@pwr.edu.pl

Stanowisko profilometru optycznego służy do zaawansowanych pomiarów parametrów topograficznych powierzchni poddanych różnego rodzaju obróbce w szerokim zakresie skali pomiarowej. Dzięki wysokiej rozdzielczości obrazowania i przetwarzaniu cyfrowemu na stanowisku możliwe jest tworzenie obrazów powierzchni o głębi niedostępnej dla klasycznej mikroskopii optycznej z submikrometrowymi rozdzielczościami, umożliwiając pomiar kształtów, chropowatości powierzchni. Uzupełnieniem stanowisko jest mikroskop sił atomowych pozwalający na pomiary profili powierzchni z subnanometrową rozdzielczością.

Elementy wchodzące w skład stanowiska:

profilometr Olympus LEXT5000 o zakresie powiększeń 54x-17280x, pole widzenia 16 µm- 5120 µm, rozdzielczość pojedynczego pomiaru 4096×4096 punktów, rozdzielczość wyświetlanej szerokości i wysokości 1 nm.
mikroskop sił atomowych CoreAFM o zakresie skanowania 100 µm, maksymalnym zakresie wysokości 12 um, szumach sensora 250 pm.